能谱仪(国产）简介
EDS2000
品牌：武汉名优泰克
前言
能谱仪的国产设备替代进口迫在眉睫，根据国家相关部门科技维新“十四五”规划，经过我司开展核心技术攻关和产业化应用研究，于2022年9月在广东中国海洋大学电镜实验室投入能谱仪样机试用。通过不断完善和技术更新，我司生产的X射线能谱仪（EDS）已完成国产化。
PES可以分为两类：
X射线能谱仪（EDS），能量分辨率：优于129eV（@计数率100,000cps）（符合ISO 15632:2012标准）。
紫外线电子谱(UPS)， 能量范围为10eV～40eV（符合ISO 15632:2012标准）。
主要用途：
1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析;
2、金属材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分的鉴定;
3、可对固体材料的表面涂层、镀层进行分析，如：金属化膜表面镀层的检测;
4、金银饰品、宝石首饰的鉴别，考古和文物鉴定，以及刑侦鉴定等领域;
5、进行材料表面微区成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的面、线、点分布分析。
技术参数：
1. 能谱仪技术指标
1.1 探测器：分析型SDD硅漂移电制冷探测器，30mm2有效面积；高分子超薄窗设计，无需液氮冷却，仅消耗电能。
1.2 能量分辨率：优于129eV（@计数率100,000cps）。
1.3 元素分析范围：B5～Cf98；可从面分布图上进行点、线谱图重建。
1.4 能谱应用软件采用更新的实时能谱平台，多线程设计。
1.5 具备元素谱图Live功能，独立一件显示电镜和能谱数据；实时显示MinQuant的定量分析结果。
1.6 具备元素面分布Live功能：在样品台静止状态、移动及改变放大倍数时，均可实时显示电子图像、不同元素分布以及它们的叠加图。样品停止移动时，自动开启面分布图静态采集模式，得到更高清晰度的面分布图。可利用AZtec软件控制样品台移动及改变放大倍数。
1.7 内置Tru-Q引擎，确保定量分析的准确性；FLS（高帽滤波法）自动扣除背底，确定谱峰的位置及峰型；Qcal基于探头类型修正谱峰峰型，PPC准确预测高计数率下的和峰并进行修正。
1.8 定量分析：采用XPP定量修正技术。具有完备的标样数据库，20kv及5kv高低电压定量数据库。
1.9 能谱仪电子图像更高分辨率达8192X8192像素；元素面分布图分辨率更高达4096X4096像素。
1.10 采用X1脉冲与图像处理器：可高效进行脉冲处理和图像采集，在1,000,000计数率下进行元素面分布分析，在100,000计数率下进行定量分析。
2. 售后服务
2.1 配备专职的售后工程师。
2.2 能谱仪维修点多，故障维修时间不超过8小时。
2.3 质保期3年；每增加一年有合理的阶梯收费标准。
