黑体开始发展的是高温黑体，早在20世纪50年代，由于光学高温计的应用，当时的苏联和英国已经研制出了黑体炉，MAX高工作温度可以达到2500℃。20世纪 60年代，日本生产出卧式黑体炉，MAX高工作温度为2200℃；同年代，我国也研制出卧式黑体炉，工作温度为900～3200℃。
在20世纪60年代，中温黑体就有人开始研究，因为当时的技术条件限制，对黑体技术（如黑体腔、等温黑体腔、黑体发射率等）认识不足，甚至将热电偶检定炉的中间放置一个靶子就看作是黑体。
自从美国在越南战争初次使用红外技术，成功地侦察到密林中的胡志明小道后（注：当时胡志明小道是运输线），拉开了红外技术在**上应用的序幕。随后，各国都 开展了红外侦察、红外伪装、红外制导、红外诱饵、空中防卫等技术的研究工作，这就促进了对黑体技术的研究，尤其是对中低温黑体的研究。
因此国外在20世纪 80年代就已经有低温黑体，我国对低温黑体的研究，是从20世纪90开始。 近 30年来，红外技术已经广泛地应用于民用，如红外资源卫星、红外气象卫星、红外加热、红外干燥、医用红外、红外测温等，同时开始了民用黑体产品的研究。尤 其是近20年来，红外温度计的广泛应用，作为红外温度计检定用的主要设备－黑体的市场需求量增加，这促进了黑体技术向产品化传化的进度。
对 黑体技术的研究，尤其是对黑体发射率技术的研制，从20世纪50年代开始，一直是断断续续地进行着。国内一些大学，对黑体发射率进行研究，并根据辐射换热 原理，对当时的黑体产品研究出一套发射率的计算方法。同时，形成了对圆柱形黑体腔，腔体长度和腔口之比（称为形腔比）为一个固定的模式。1998年，在国 防计量科研课题的研究中，专家在基于等温和漫反射的基础上，应用辐射换热原理，导出了黑体发射率全新的计算公式，从理论上证明了只要黑体腔内表面温度均匀 且为漫反射，黑体的发射率只与黑体的腔口面积与内表面面积之比、黑体腔内表面发射率有关，而与黑体的形状、黑体的温度无关，系统阐述了黑体发射率的理论， 使得对黑体发射率理论的研究，向前迈进了一步，同时对于黑体的研制和生产，有着极大的指导意义。
对 于腔式黑体，也是一个逐步发展过程。从开始研制出雏形黑体，到开始重视形腔比，因此改进黑体腔按照一定的形腔比设计，将黑体的性能进行提高；到开始重视黑 体的等温段，尽量提高黑体的等温区域，将黑体的性能进一步提高；到目前为止，应用黑体发射率的理论计算公式指出的改进途径，使黑体的性能又得到提高；这就 是一个不断发展和不断完善的过程。
在 黑体的设计上，人们对于黑体的等温特性越来越重视，黑体腔内表面的温度均匀性已经作为黑体设计主要技术指标之一；因此对于有的黑体内表面温度均匀性较好的 黑体，又称为“等温黑体”。对于黑体内表面温度均匀性的要求，将热管技术应用于黑体，黑体内表面等温效果很好，因此近代使用热管技术研制出的黑体，称为热 管黑体。热管黑体是等温黑体的一种。 随着科学技术发展，需要更高精度的黑体作为标准辐射源，尤其在300℃以下温度段。因此又发展了高精度的黑体，这些黑体辐射温度的准确度在（0.1～0.5）℃和0.01℃分别率。
